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Microscope AFM Silver Pro

Microscopie à force atomique
E012
Contatcs: youri.arntz unistra.fr

Détails techniques

Modesd’aquisition:
- Microscopie en phase gazeuse:
STM : Microscopie à effet Tunnel
Atomic Force Microscopy (AFM) (contact +semicontact + noncontact)/ Lateral Force Microscopy (LFM)
Phase Imaging mode/ Force Modulation mode/ Adhesion Force Imaging/DC & ACMagnetic Force Microscopy (MFM)
- Microscopie en phase liquide:
Atomic Force Microscopie(AFM) (contact + semicontact)/ Microscopie à Force Latérale LFM
- Spectroscopie:
Imagerie Force volume
Spectroscopie de force: courbes amplitude-distance, courbes phase-distance

Equipements
Microscope NT-MDT Solver Pro-47, stand alone
Scanner STM 1µmx1µm Z scan 200 nm
Scanner AFM 100µmx100µm Z scan 17 µm close loop sur les trois axes
Scanner AFM 13µmx13µm Z scan 3 µm

Informatique
NOVA SPM software, acquisition et analyse
GWYDDION V2.10 analyse
SPIP V.4.71 analyse , logiciel 3D, Matlab)

N’oubliez pas de citer la plateforme dans les remerciements!