Partenaires

CNRS
Université de Strasbourg


Search


Home page > Instruments du plateau

Microscope AFM et fluorescence

Microscopie à force atomique et fluorescence
E012
Contatcs: youri.arntz unistra.fr

Détails techniques

Modesd’aquisition:
Microscopie en phase gazeuse:
- STM : Microscopie à effet Tunnel
- Atomic Force Microscopy (AFM) (contact +semicontact + noncontact)/ Lateral Force Microscopy (LFM)
- Phase Imaging mode/ Force Modulation mode/ Adhesion Force Imaging/DC & AC
Microscopie en phase liquide:
- Atomic Force Microscopie(AFM) (contact + semicontact)/ Microscopie à Force Latérale LFM
Spectroscopie:
Imagerie Force volume
Spectroscopie de force: courbes amplitude-distance, courbes phase-distance

Equipements
- Microscope TIRF
Statif inversé Olympus IX71
Laser 488 nm
Objectif 100X 1.49
Caméra EMCCD ANDOR iXON
- Microscope AFM
NT-MDT SNEMA
Scanner 100µmx100µm Z scan 17 µm close loop sur les trois axes

Informatique
NOVA SPM software, acquisition et analyse
GWYDDION V2.10 analyse
RapidStorm

N’oubliez pas de citer la plateforme dans les remerciements!